Zweikanal-SMU mit ±210 V / 3,03 A, 6½-stelliger Anzeige, 10 fA / 100 nV Auflösung und 100.000 Messpunkten/s. Für präzise Halbleiter- und Leistungstests.
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Modell
Beschreibung
Die SMM3312X Source-Measure-Unit von Siglent ist eine zweikanalige, hochpräzise SMU für Forschungs-, Entwicklungs- und Prüfaufgaben. Sie bietet ±210 V, ±3,03 A und 31,8 W Ausgangsleistung pro Kanal, eine Auflösung von 100 nV / 10 fA sowie eine 6½-stellige Anzeige. Mit bis zu 100.000 Messpunkten/s, Pulsbetrieb bis ±10,5 A (min. Pulsbreite 50 µs) und den Betriebsarten DC, Pulse, Scan und List erfüllt sie anspruchsvolle I‑V‑ und Leistungstests. Die integrierte 5‑Zoll‑TFT-Anzeige visualisiert Messdaten numerisch und grafisch, während LAN und USB Fernsteuerung und Datenaustausch ermöglichen.
Features
- Zweikanalige Source-Measure-Unit (2 Kanäle)
- Max. Ausgang ±210 V, ±3,03 A, 31,8 W pro Kanal
- Pulsbetrieb bis ±10,5 A, minimale Pulsbreite 50 µs
- Programm‑/Messauflösung 100 nV / 10 fA
- 6½-stelliges Display (2.100.000 Counts) auf 5\" TFT
- Messrate bis zu 100.000 points/s
- Betriebsarten: DC, Pulse, Scan, List
- Genauigkeiten: Voltage 0,015% + 225 µV, Current 0,1% + 100 pA (Readback)
- Schnittstellen: USB Host/Device und LAN; optionaler USB-GPIB-Adapter
Die SMM3312X ist eine zweikanalige SMU-Plattform, ausgelegt für präzise Charakterisierung von Halbleitern, Leistungshalbleitern und Materialproben. Mit ±210 V, ±3,03 A und 31,8 W pro Kanal sowie Pulsfähigkeiten bis ±10,5 A und minimal 50 µs Pulsbreite lassen sich schnelle Transienten- und Schaltverlustmessungen zuverlässig abbilden. Die Kombination aus 100 nV / 10 fA Auflösung, 6½-stelliger Anzeige und einer Messrate von bis zu 100.000 Punkten/s ermöglicht feinkörnige I‑V-Kurven und detaillierte Datensätze. Sequenzen können über SCPI oder die integrierte Bedienoberfläche automatisiert werden; der List‑Mode erlaubt Schritte ab 10 µs. Graph‑ und Roll‑Ansichten unterstützen die direkte Auswertung großer Datensätze auf dem 5‑Zoll‑TFT. Typische Einsatzfälle sind Kennlinienmessungen, Bauteilcharakterisierung unter Pulsbedingungen und automatisierte Prüflinge in Labor- und Produktionsumgebungen. Schnittstellen für USB und LAN vereinfachen Integration in Messstände und automatisierte Abläufe, ein optionaler Adapter erweitert die Kommunikation weiter.
