Beschreibung
Die TH2523-Serie umfasst hochpräzise Batterietester mit AC/DC-Impedanzmessung bei 1 kHz und einer einstellbaren Konstantstromquelle bis 100 mA. Ausgelegt für schnelle, zuverlässige Prüfung von Knopfzellen bis hin zu Hochvolt-Batterien, überzeugt sie durch 4,3″ Farb-LCD, intuitive Bedienung und vielfältige Schnittstellen für PC-Anbindung und automatisierte Testsysteme.Features
- Mehrere Testfunktionen: 4-Leiter-Messung, Kontaktprüfung, Abweichungsdifferenz (REL) und Referenzoperation
- Batterietester-spezifisch: Grund-Impedanzgenauigkeit 0,1 %, Grund-Spannungsgenauigkeit 0,1 % (TH2523A) bzw. 0,05 % (TH2523)
- Minimale Impedanzauflösung 1 µΩ, Spannungsauflösung 100 µV
- Maximale Messgeschwindigkeit bis 50 Messungen/s (FAST)
- 1 kHz AC-Konstantstromquelle (100 mA/10 mA/1 mA/100 µA/10 µA)
- R, V, L, Z, θ-Messung inkl. sekundärer Parameter Q, ESR etc.
- 24-Bit-Farb-LCD 4,3″ (480×272), direkte Anzeige und Δ%-Darstellung
- Signalpegel-Monitor (V/I), grafische Auswertung und Scanfunktion
- 10-Bin-Vergleich mit Grenzwerten, Pass/Fail-Alarm und Statistik (z. B. CpK)
- Speicherung: bis zu 100 Konfigurationsdateien, Information auf USB-Stick ablegbar, automatische Firmware-Updates über USB HOST
- Mehrsprachiges Menü (Chinesisch/Englisch)
- Fußschalter-Triggerfunktion, Handler-Interface für automatisierte Systeme
- Kommunikationsschnittstellen: RS232, USB Device, USB Host, GPIB (optional) für PC-Fernsteuerung
Anwendungen
- Schnelle Prüfung von Knopfzellen und Batteriepaketen
- Tests für Mobiltelefon-, Haushaltsgeräte-, Elektrofahrzeug-, E-Bike-Batterien
- Hochvolt-Batterietests (bis 300 V bei TH2523A)
- Frühe Batterieforschung und Entwicklung (R&D)
- Kontaktwiderstandsmessung bei Bauteilen
- Degradations- und Lebensdauerevaluation von Batterien
- Online-UPS-Tests
- ESR-Messung von Superkondensatoren
- Allgemeine Komponenten-ACR-Tests (z. B. Sensoren, Kondensatoren, Widerstände)
Technische Daten
Modell | ![]() TH2523 | ![]() TH2523A |
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Display | 4,3″ TFT-Farb-LCD, 480×272 Pixel | 4,3″ TFT-Farb-LCD, 480×272 Pixel |
Anzeigeauflösung (Displayed digit) | R/V: langsam 5 Ziffern (Max. 35000), schnell 4 Ziffern (Max. 3500) | R/V: langsam 5 Ziffern (Max. 35000), schnell 4 Ziffern (Max. 3500) |
Parameter | R, V, R-V, Z-θ°, Z-θr, L-Q, L-R, R-X, R-Q | R, V, R-V, Z-θ°, Z-θr, L-Q, L-R, R-X, R-Q |
Grundgenauigkeit | R: 0,1 %, V: 0,05 % | R: 0,1 %, V: 0,05 % |
Testsignal | 1 kHz ±0,2 Hz Sinus, Konstantstrom 100 mA/10 mA/1 mA/100 µA/10 µA | 1 kHz ±0,2 Hz Sinus, Konstantstrom 100 mA/10 mA/1 mA/100 µA/10 µA |
Messbereich R/Z/X | 1 µΩ – 3,5 kΩ | 1 µΩ – 3,5 kΩ |
Messbereich DC Spannung | 100 µV – 65 V | 100 µV – 350 V |
Induktivität (L) | 0,2 nH – 1 H | 0,2 nH – 1 H |
Gütefaktor (Q) | 0,001 – 9999,9 | 0,001 – 9999,9 |
Phasenwinkel (θ) | -179,99° – 179,99° (-3,1416 – 3,1416 rad) | -179,99° – 179,99° (-3,1416 – 3,1416 rad) |
AC-Widerstandsbereiche | 30 mΩ / 300 mΩ / 3 Ω / 30 Ω / 300 Ω / 3 kΩ | 30 mΩ / 300 mΩ / 3 Ω / 30 Ω / 300 Ω / 3 kΩ |
DC-Spannungsbereiche | 6 V / 60 V | 30 V / 300 V |
Max. Eingangs-Spannung | 65 V | 350 V |
Testgeschwindigkeit | FAST: 50 /s, MED: 10 /s, SLOW1: 5 /s, SLOW2: 3 /s | FAST: 50 /s, MED: 10 /s, SLOW1: 5 /s, SLOW2: 3 /s |
Comparator | 10 Bins, Auto/Hold, Trigger Intern/Extern/Manuell/Bus | 10 Bins, Auto/Hold, Trigger Intern/Extern/Manuell/Bus |
Betriebsfunktionen | Leitungs-Kontaktprüfung; DUT I/V-Monitor; REL; Kurzschluss “0”; 1–255 Durchschnitt; Delay; Grafik-Analyse & Scan; USB-Speicherung (bis 100 Gruppen); Statistik bis 30.000 Werte | Leitungs-Kontaktprüfung; DUT I/V-Monitor; REL; Kurzschluss “0”; 1–255 Durchschnitt; Delay; Grafik-Analyse & Scan; USB-Speicherung (bis 100 Gruppen); Statistik bis 30.000 Werte |
Schnittstellen | Handler, RS232, USB Device, USB Host, GPIB (optional) | Handler, RS232, USB Device, USB Host, GPIB (optional) |
Umgebung | 0 °C – 40 °C, ≤ 90 % r.F. | 0 °C – 40 °C, ≤ 90 % r.F. |
Netzversorgung | 100–120 V / 198–242 V AC, 47–63 Hz, Max. 15 VA | 100–120 V / 198–242 V AC, 47–63 Hz, Max. 15 VA |
Abmessungen (B×H×T) | 215×87×335 mm (Gerät) | 215×87×335 mm (Gerät) |
Gewicht | ≈ 3,6 kg | ≈ 3,6 kg |