Der Tonghui TH2848-05 ist ein Impedanzanalysator für 4 Hz–5 MHz, Auto-Balance-Brückentechnologie & ±40 V DC-Bias.
15.899,00 €*
Staffelpreise auf Anfrage!
Lieferzeit: 1-2 Wochen
Weitere Informationen
.jpg){kind=icon}
.jpg){kind=icon}
.jpg)
.jpg)
.jpg)
.jpg)
Produktnummer: TH2848-05
Hersteller: Tonghui
Beschreibung
Die Tonghui TH2848-Serie ist ein hochauflösender Impedanzanalysator mit 10,1-Zoll-Kapazitiv-Touchscreen (1280×800) und automatischer Auto-Balance-Brückentechnologie für vierpolige Messungen; sie deckt Testfrequenzen von 4 Hz bis 10 MHz ab und bietet einen AC-Signalpegel von bis zu 20 VAC/100 mA sowie DC-Bias bis ±40 V/±100 mA bei einer Grundgenauigkeit von 0,05 %.Durch Dual-CPU-Architektur erreicht sie Messgeschwindigkeiten von bis zu 400 Messungen pro Sekunde (2,5 ms) und unterstützt Spot-Messung, Listenscan und grafikbasierte Scans mit bis zu vier Parametern pro Kurve sowie leistungsstarke Sortier- und Vergleichsfunktionen.
Im Linux-basierten System mit eingebettetem Hilfesystem, SCPI/MODBUS-Kompatibilität (u. a. Keysight E4980A, HP 4284A) und unabhängiger Zylindersteuerung (24 V) lassen sich Kondensatoren, Induktivitäten, Widerstände, piezoelektrische und keramische Bauteile sowie Leiterplatten, Halbleiter und Flüssigkristall-Materialien präzise charakterisieren. Die TH2848-Serie eignet sich ideal für Labor- und Fertigungsumgebungen, in denen höchste Stabilität, Geschwindigkeit und Vielseitigkeit gefragt sind – von Routineprüfungen bis zur Materialforschung.
Features
- Hohe Auflösung: 10,1 Zoll, Auflösung 1280 x 800, kapazitiver Touchscreen
- Hohe Präzision: Automatische Balanced-Bridge-Technologie, Konfiguration für Vierpolpaar-Test
- Hohe Stabilität und Konsistenz: 15 Messbereichskonfigurationen
- Hohe Leistung: Signalpegel: 20 V AC / 100 mA AC, integrierte Gleichstromvorspannung: ±40 V DC / 100 mA ADC
- Hohe Geschwindigkeit: Dual-CPU-Architektur, höchste Prüfgeschwindigkeit bis zu 400 Messungen/s (2,5 ms)
- Komfortable Bedienung: Linux-Betriebssystem, Touch-Bedienung, integrierte Hilfe
- Drei Prüfarten: Stichprobenprüfung, Listenscan und Grafikscan
- Vier-Parameter-Messung
- Aufzeichnung per Mausklick, Screenshot per Mausklick
- 201-Punkt-Multiparameter-Listenscan
- Grafikscan, 4 Spuren nach Wahl, unterstützt 1/2/4-Splitscreen
- Piezoelektrischer Leitfähigkeitskreistest, Dielektrizitätskonstantentest
- Leistungsstarke Sortierung: LCR-Modus: 10 Sortierstufen; Grafischer Analysemodus: Unterstützt
- Kurvenzustandssortierung
- Hohe Kompatibilität: Unterstützt SCPI/MODBUS-Befehlssatz. Kompatibel mit KEYSIGHT E4980A, E4980AL, HP4284A
- Unabhängige 24-V-Zylindersteuerung
Anwendungen
- Passive Bauelemente
Bewertung von Impedanzparametern und Leistungsanalyse von Kondensatoren, Induktivitäten, Kernen, Widerständen, piezoelektrischen Bauelementen, Transformatoren, Chipbaugruppen, Kristallen und Netzwerkkomponenten. - Halbleiterbauelemente
Prüfung und Analyse parasitärer Parameter von integrierten LED-Treiberschaltungen; C-VDC-Charakterisierung von Varaktordioden; Analyse parasitärer Parameter von Transistoren oder integrierten Schaltungen. - Sonstige Bauelemente
Impedanzbewertung von Leiterplatten, Relais, Schaltern, Kabeln, Batterien usw. - Mediummaterial
Bewertung der Dielektrizitätskonstanten und Verlustwinkel von Kunststoffen, Keramiken und anderen Materialien. - Magnetisches Material
Bewertung der Permeabilität und des Verlustwinkels von Ferriten, amorphen und anderen magnetischen Materialien - Halbleitermaterialien
Dielektrizitätskonstante, elektrische Leitfähigkeit und C-V-Eigenschaften von Halbleitermaterialien - Flüssigkristallmaterialien
C-V-Eigenschaften wie Dielektrizitätskonstante und Elastizitätskonstante von Flüssigkristalleinheiten - Piezoelektrische Materialien und Bauelemente
Piezokeramische Filter, Piezokeramische Fallen, Piezokeramische Diskriminatoren, Piezokeramische Transformatoren, Hochleistungs-Ultraschallgeneratoren, Wandler (Oszillatoren), Oberflächenwellenbauelemente, elektroakustische Bauelemente usw. können auf statische Kapazität, Verlust, Resonanzfrequenz, Antiresonanzfrequenz, mechanischen Kopplungskoeffizienten und andere Parameter geprüft werden.
Technische Daten
| Modell |  TH2848-02L | TH2848-02 | TH2848-05 | TH2848-10 |
|---|---|---|---|---|
| Display-Monitor | 10,1-Zoll (diagonal) kapazitiver Touchscreen | 10,1-Zoll (diagonal) kapazitiver Touchscreen | 10,1-Zoll (diagonal) kapazitiver Touchscreen | 10,1-Zoll (diagonal) kapazitiver Touchscreen |
| Display-Skala | 16:9 | 16:9 | 16:9 | 16:9 |
| Display-Auflösung | 1280×RGB×800 | 1280×RGB×800 | 1280×RGB×800 | 1280×RGB×800 |
| Messparameter – Methoden | Vier Parameter beliebig auswählbar | Vier Parameter beliebig auswählbar | Vier Parameter beliebig auswählbar | Vier Parameter beliebig auswählbar |
| Messparameter – AC | Cp, Cs, Lp, Ls, Rp, Rs, |Z|, |Y|, R, X, G, B, θ, D, Q, VAC, IAC | Cp, Cs, Lp, Ls, Rp, Rs, |Z|, |Y|, R, X, G, B, θ, D, Q, VAC, IAC | Cp, Cs, Lp, Ls, Rp, Rs, |Z|, |Y|, R, X, G, B, θ, D, Q, VAC, IAC | Cp, Cs, Lp, Ls, Rp, Rs, |Z|, |Y|, R, X, G, B, θ, D, Q, VAC, IAC |
| Messparameter – DC | RDC | RDC | RDC | RDC |
| Messparameter – Piezoelektrizität | Ct, Dt, Fs, Fp, Fp–Fs, Zmin, Zmax, F1, F2, F2–F1, Gmax, C0, C1, R1, L, Kp, Keff, Kt, K31, K33, Qm, ε, εr | Ct, Dt, Fs, Fp, Fp–Fs, Zmin, Zmax, F1, F2, F2–F1, Gmax, C0, C1, R1, L, Kp, Keff, Kt, K31, K33, Qm, ε, εr | Ct, Dt, Fs, Fp, Fp–Fs, Zmin, Zmax, F1, F2, F2–F1, Gmax, C0, C1, R1, L, Kp, Keff, Kt, K31, K33, Qm, ε, εr | Ct, Dt, Fs, Fp, Fp–Fs, Zmin, Zmax, F1, F2, F2–F1, Gmax, C0, C1, R1, L, Kp, Keff, Kt, K31, K33, Qm, ε, εr |
| Messparameter – Dielektrikum | Cp, D, ε, |ε|, εr′, εr″, tan δ, Q | Cp, D, ε, |ε|, εr′, εr″, tan δ, Q | Cp, D, ε, |ε|, εr′, εr″, tan δ, Q | Cp, D, ε, |ε|, εr′, εr″, tan δ, Q |
| Testfrequenz – Bereich | 4 Hz–2 MHz | 4 Hz–2 MHz | 4 Hz–5 MHz | 4 Hz–10 MHz |
| Testfrequenz – Genauigkeit | 0,01 % | 0,01 % | 0,01 % | 0,01 % |
| Auflösung – 0,1 mHz | 0,1 mHz (4,0000 Hz–99,9999 Hz) | 0,1 mHz (4,0000 Hz–99,9999 Hz) | 0,1 mHz (4,0000 Hz–99,9999 Hz) | 0,1 mHz (4,0000 Hz–99,9999 Hz) |
| Auflösung – 1 mHz | 1 mHz (100,000 Hz–999,999 Hz) | 1 mHz (100,000 Hz–999,999 Hz) | 1 mHz (100,000 Hz–999,999 Hz) | 1 mHz (100,000 Hz–999,999 Hz) |
| Auflösung – 10 mHz | 10 mHz (1,00000 kHz–9,99999 kHz) | 10 mHz (1,00000 kHz–9,99999 kHz) | 10 mHz (1,00000 kHz–9,99999 kHz) | 10 mHz (1,00000 kHz–9,99999 kHz) |
| Auflösung – 100 mHz | 100 mHz (10,0000 kHz–99,9999 kHz) | 100 mHz (10,0000 kHz–99,9999 kHz) | 100 mHz (10,0000 kHz–99,9999 kHz) | 100 mHz (10,0000 kHz–99,9999 kHz) |
| Auflösung – 1 Hz | 1 Hz (100,000 kHz–999,999 kHz) | 1 Hz (100,000 kHz–999,999 kHz) | 1 Hz (100,000 kHz–999,999 kHz) | 1 Hz (100,000 kHz–999,999 kHz) |
| Auflösung – 10 Hz | 10 Hz (1,00000 MHz–9,99999 MHz) | 10 Hz (1,00000 MHz–9,99999 MHz) | 10 Hz (1,00000 MHz–9,99999 MHz) | 10 Hz (1,00000 MHz–9,99999 MHz) |
| AC-Testsignal-Modus – Nennwert (ALC AUS) | Spannung: Hcur bei offenem DUT; Strom: Hcur bei kurzgeschlossenem DUT. | Spannung: Hcur bei offenem DUT; Strom: Hcur bei kurzgeschlossenem DUT. | Spannung: Hcur bei offenem DUT; Strom: Hcur bei kurzgeschlossenem DUT. | Spannung: Hcur bei offenem DUT; Strom: Hcur bei kurzgeschlossenem DUT. |
| AC-Testsignal-Modus – Konstantwert (ALC EIN) | Hält Spannung/Strom am DUT konstant. | Hält Spannung/Strom am DUT konstant. | Hält Spannung/Strom am DUT konstant. | Hält Spannung/Strom am DUT konstant. |
| Testpegel – Spannungsbereich (≤ 1 MHz) | 0 mVrms–20 Vrms | 0 mVrms–20 Vrms | 0 mVrms–20 Vrms | 0 mVrms–20 Vrms |
| Testpegel – Spannungsbereich (1 MHz–2 MHz) | 0 mVrms–15 Vrms | 0 mVrms–15 Vrms | 0 mVrms–15 Vrms | 0 mVrms–15 Vrms |
| Testpegel – Spannungsbereich (2 MHz–5 MHz) | 0 mVrms–2 Vrms | 0 mVrms–2 Vrms | 0 mVrms–2 Vrms | 0 mVrms–2 Vrms |
| Testpegel – Spannungsbereich (5 MHz–10 MHz) | 0 mVrms–1 Vrms | 0 mVrms–1 Vrms | 0 mVrms–1 Vrms | 0 mVrms–1 Vrms |
| Testpegel – Genauigkeit (≤ 2 Vrms) | ±(10 %×Soll + 2 mV) | ±(10 %×Soll + 2 mV) | ±(10 %×Soll + 2 mV) | ±(10 %×Soll + 2 mV) |
| Testpegel – Genauigkeit (> 2 Vrms) | ±(10 %×Soll + 5 mV) | ±(10 %×Soll + 5 mV) | ±(10 %×Soll + 5 mV) | ±(10 %×Soll + 5 mV) |
| Testpegel – Auflösung 0,1 mVrms (0–0,2 Vrms) | 0,1 mVrms | 0,1 mVrms | 0,1 mVrms | 0,1 mVrms |
| Testpegel – Auflösung 0,2 mVrms (0,2–0,5 Vrms) | 0,2 mVrms | 0,2 mVrms | 0,2 mVrms | 0,2 mVrms |
| Testpegel – Auflösung 0,5 mVrms (0,5–1 Vrms) | 0,5 mVrms | 0,5 mVrms | 0,5 mVrms | 0,5 mVrms |
| Testpegel – Auflösung 1 mVrms (1–10 Vrms) | 1 mVrms | 1 mVrms | 1 mVrms | 1 mVrms |
| Testpegel – Auflösung 10 mVrms (10–20 Vrms) | 10 mVrms | 10 mVrms | 10 mVrms | 10 mVrms |
| Testpegel – Strombereich | 0 mArms–20 mArms | 0 mArms–100 mArms | 0 mArms–100 mArms | 0 mArms–100 mArms |
| Testpegel – Auflösung (100 Ω intern) | 1 μArms (0–2 mArms) | 1 μArms (0–2 mArms) | 1 μArms (0–2 mArms) | 1 μArms (0–2 mArms) |
| Testpegel – Auflösung (100 Ω intern) | 2 μArms (2–5 mArms) | 2 μArms (2–5 mArms) | 2 μArms (2–5 mArms) | 2 μArms (2–5 mArms) |
| Testpegel – Auflösung (100 Ω intern) | 5 μArms (5–10 mArms) | 5 μArms (5–10 mArms) | 5 μArms (5–10 mArms) | 5 μArms (5–10 mArms) |
| Testpegel – Auflösung (100 Ω intern) | 10 μArms (10–100 mArms) | 10 μArms (10–100 mArms) | 10 μArms (10–100 mArms) | 10 μArms (10–100 mArms) |
| RDC-Test – Spannungsbereich | 100 mV–1 V | 100 mV–1 V | 100 mV–1 V | 100 mV–1 V |
| RDC-Test – Auflösung | 100 μV | 100 μV | 100 μV | 100 μV |
| RDC-Test – Strombereich | 0 mA–10 mA | 0 mA–10 mA | 0 mA–10 mA | 0 mA–10 mA |
| RDC-Test – Auflösung | 10 μA | 10 μA | 10 μA | 10 μA |
| DC-Bias – Spannungsbereich | 0 V–±10 V | 0 V–±40 V | 0 V–±40 V | 0 V–±40 V |
| DC-Bias – Genauigkeit (≤ 2 V) | 1 %×Soll + 5 mV | 1 %×Soll + 5 mV | 1 %×Soll + 5 mV | 1 %×Soll + 5 mV |
| DC-Bias – Genauigkeit (> 2 V) | 2 %×Soll + 8 mV | 2 %×Soll + 8 mV | 2 %×Soll + 8 mV | 2 %×Soll + 8 mV |
| DC-Bias – Auflösung 0,1 mV (0–±5 V) | 0,1 mV | 0,1 mV | 0,1 mV | 0,1 mV |
| DC-Bias – Auflösung 1 mV (±5 V–±40 V) | 1 mV | 1 mV | 1 mV | 1 mV |
| DC-Bias – Strombereich | 0 mA–±100 mA | 0 mA–±100 mA | 0 mA–±100 mA | 0 mA–±100 mA |
| DC-Bias – Auflösung | 1 μA (0–50 mA) | 1 μA (0–50 mA) | 1 μA (0–50 mA) | 1 μA (0–50 mA) |
| DC-Bias – Auflösung | 10 μA (50–100 mA) | 10 μA (50–100 mA) | 10 μA (50–100 mA) | 10 μA (50–100 mA) |
| Spannungsquelle – Spannungsbereich | -10 V–10 V | -10 V–10 V | -10 V–10 V | -10 V–10 V |
| Spannungsquelle – Auflösung | 1 mV | 1 mV | 1 mV | 1 mV |
| Spannungsquelle – Strombereich | -45 mA–+45 mA | -45 mA–+45 mA | -45 mA–+45 mA | -45 mA–+45 mA |
| Spannungsquelle – Ausgangsimpedanz | 100 Ω | 100 Ω | 100 Ω | 100 Ω |
| Zylindersteuerung – Schaltsteuerung | ||||
| Zylindersteuerung – Einschalten | Schaltet innerhalb 0–60 s ein | Schaltet innerhalb 0–60 s ein | Schaltet innerhalb 0–60 s ein | Schaltet innerhalb 0–60 s ein |
| Zylindersteuerung – Ausschalten | Schaltet innerhalb 0–60 s aus | Schaltet innerhalb 0–60 s aus | Schaltet innerhalb 0–60 s aus | Schaltet innerhalb 0–60 s aus |
| Testseitige Konfiguration | Vier-Leiter-Messung | Vier-Leiter-Messung | Vier-Leiter-Messung | Vier-Leiter-Messung |
| Testkabel-Länge | 0 m, 1 m | 0 m, 1 m | 0 m, 1 m | 0 m, 1 m |
| Externe Ausgangsimpedanz | 100 Ω ± 1 % @ 1 kHz | 100 Ω ± 1 % @ 1 kHz | 100 Ω ± 1 % @ 1 kHz | 100 Ω ± 1 % @ 1 kHz |
| Mathematische Operation | Absolute Abweichung Δ; Prozentabweichung Δ % | Absolute Abweichung Δ; Prozentabweichung Δ % | Absolute Abweichung Δ; Prozentabweichung Δ % | Absolute Abweichung Δ; Prozentabweichung Δ % |
| Gleichwertigkeitsmodus | Seriell, parallel | Seriell, parallel | Seriell, parallel | Seriell, parallel |
| Kalibrierfunktion | OPEN, SHORT, LOAD | OPEN, SHORT, LOAD | OPEN, SHORT, LOAD | OPEN, SHORT, LOAD |
| Mittelwertbildung | 1–255 Messungen | 1–255 Messungen | 1–255 Messungen | 1–255 Messungen |
| Bereichswahl | AUTO, HOLD | AUTO, HOLD | AUTO, HOLD | AUTO, HOLD |
| Auslösemodus | Fortlaufend, einzeln | Fortlaufend, einzeln | Fortlaufend, einzeln | Fortlaufend, einzeln |
| Auslöseverzögerung | 0–60 s | 0–60 s | 0–60 s | 0–60 s |
| Spezifische Funktion | Ein-Klick-Screenshot; Ein-Klick-Aufnahme; Integriertes Hilfesystem | Ein-Klick-Screenshot; Ein-Klick-Aufnahme; Integriertes Hilfesystem | Ein-Klick-Screenshot; Ein-Klick-Aufnahme; Integriertes Hilfesystem | Ein-Klick-Screenshot; Ein-Klick-Aufnahme; Integriertes Hilfesystem |
| Bereichskonfiguration – LCR | 100 mΩ, 1 Ω, 10 Ω, 20 Ω, 50 Ω, 100 Ω, 200 Ω, 500 Ω, 1 kΩ, 2 kΩ, 5 kΩ, 10 kΩ, 20 kΩ, 50 kΩ, 100 kΩ | 100 mΩ, 1 Ω, 10 Ω, 20 Ω, 50 Ω, 100 Ω, 200 Ω, 500 Ω, 1 kΩ, 2 kΩ, 5 kΩ, 10 kΩ, 20 kΩ, 50 kΩ, 100 kΩ | 100 mΩ, 1 Ω, 10 Ω, 20 Ω, 50 Ω, 100 Ω, 200 Ω, 500 Ω, 1 kΩ, 2 kΩ, 5 kΩ, 10 kΩ, 20 kΩ, 50 kΩ, 100 kΩ | 100 mΩ, 1 Ω, 10 Ω, 20 Ω, 50 Ω, 100 Ω, 200 Ω, 500 Ω, 1 kΩ, 2 kΩ, 5 kΩ, 10 kΩ, 20 kΩ, 50 kΩ, 100 kΩ |
| Bereichskonfiguration – RDC | 10 Ω, 20 Ω, 50 Ω, 100 Ω, 200 Ω, 500 Ω, 1 kΩ, 2 kΩ, 5 kΩ, 10 kΩ, 20 kΩ, 50 kΩ, 100 kΩ | 10 Ω, 20 Ω, 50 Ω, 100 Ω, 200 Ω, 500 Ω, 1 kΩ, 2 kΩ, 5 kΩ, 10 kΩ, 20 kΩ, 50 kΩ, 100 kΩ | 10 Ω, 20 Ω, 50 Ω, 100 Ω, 200 Ω, 500 Ω, 1 kΩ, 2 kΩ, 5 kΩ, 10 kΩ, 20 kΩ, 50 kΩ, 100 kΩ | 10 Ω, 20 Ω, 50 Ω, 100 Ω, 200 Ω, 500 Ω, 1 kΩ, 2 kΩ, 5 kΩ, 10 kΩ, 20 kΩ, 50 kΩ, 100 kΩ |
| Messdauer (≥ 100 kHz) | Schnell: 2,5 ms; Mittel: 90 ms; Langsam: 220 ms | Schnell: 2,5 ms; Mittel: 90 ms; Langsam: 220 ms | Schnell: 2,5 ms; Mittel: 90 ms; Langsam: 220 ms | Schnell: 2,5 ms; Mittel: 90 ms; Langsam: 220 ms |
| Maximale Genauigkeit | 0,05 % (siehe SPEZ.) | 0,05 % (siehe SPEZ.) | 0,05 % (siehe SPEZ.) | 0,05 % (siehe SPEZ.) |
| Anzeigebereich – Cs, Cp | 0,00001 pF–9,99999 F | 0,00001 pF–9,99999 F | 0,00001 pF–9,99999 F | 0,00001 pF–9,99999 F |
| Anzeigebereich – Ls, Lp | 0,00001 μH–99,9999 kH | 0,00001 μH–99,9999 kH | 0,00001 μH–99,9999 kH | 0,00001 μH–99,9999 kH |
| Anzeigebereich – D | 0,00001–9,99999 | 0,00001–9,99999 | 0,00001–9,99999 | 0,00001–9,99999 |
| Anzeigebereich – Q | 0,00001–99999,9 | 0,00001–99999,9 | 0,00001–99999,9 | 0,00001–99999,9 |
| Anzeigebereich – R, Rs, Rp, X, Z, RDC | 0,001 mΩ–99,9999 MΩ | 0,001 mΩ–99,9999 MΩ | 0,001 mΩ–99,9999 MΩ | 0,001 mΩ–99,9999 MΩ |
| Anzeigebereich – G, B, Y | 0,00001 μS–99,9999 S | 0,00001 μS–99,9999 S | 0,00001 μS–99,9999 S | 0,00001 μS–99,9999 S |
| Anzeigebereich – VDC | ±0 V–±999,9999 V | ±0 V–±999,9999 V | ±0 V–±999,9999 V | ±0 V–±999,9999 V |
| Anzeigebereich – IDC | ±0 A–±999,9999 A | ±0 A–±999,9999 A | ±0 A–±999,9999 A | ±0 A–±999,9999 A |
| Anzeigebereich – θr | -6,28318 | -6,28318 | -6,28318 | -6,28318 |
| Anzeigebereich – θd | -179,999°–179,999° | -179,999°–179,999° | -179,999°–179,999° | -179,999°–179,999° |
| Anzeigebereich – Δ % | ±(0,000 %–999,9 %) | ±(0,000 %–999,9 %) | ±(0,000 %–999,9 %) | ±(0,000 %–999,9 %) |
| Multifunktionaler Listenscan – Punkte | 201; Mittelwert & Sortierung pro Punkt einstellbar | 201; Mittelwert & Sortierung pro Punkt einstellbar | 201; Mittelwert & Sortierung pro Punkt einstellbar | 201; Mittelwert & Sortierung pro Punkt einstellbar |
| Multifunktionaler Listenscan – Parameter | Testfrequenz, AC-Spannung, AC-Strom, DC-Bias-Spannung, DC-Bias-Strom, Dielektrizitätskonstante | Testfrequenz, AC-Spannung, AC-Strom, DC-Bias-Spannung, DC-Bias-Strom, Dielektrizitätskonstante | Testfrequenz, AC-Spannung, AC-Strom, DC-Bias-Spannung, DC-Bias-Strom, Dielektrizitätskonstante | Testfrequenz, AC-Spannung, AC-Strom, DC-Bias-Spannung, DC-Bias-Strom, Dielektrizitätskonstante |
| Multifunktionaler Listenscan – Auslösemodus | SEQ / STEP | SEQ / STEP | SEQ / STEP | SEQ / STEP |
| Multifunktionaler Listenscan – Weitere Funktionen | Mehrfachkopie; Verzögerung pro Punkt | Mehrfachkopie; Verzögerung pro Punkt | Mehrfachkopie; Verzögerung pro Punkt | Mehrfachkopie; Verzögerung pro Punkt |
| Multifunktionaler Listenscan – Dielektrizitätskonstante | Testlösungen für dielektrische Materialien | Testlösungen für dielektrische Materialien | Testlösungen für dielektrische Materialien | Testlösungen für dielektrische Materialien |
| Multifunktionaler Listenscan – Komparator | Bis 4 Parameter/Punkt; PASS/FAIL je nach Grenzwert | Bis 4 Parameter/Punkt; PASS/FAIL je nach Grenzwert | Bis 4 Parameter/Punkt; PASS/FAIL je nach Grenzwert | Bis 4 Parameter/Punkt; PASS/FAIL je nach Grenzwert |
| Grafischer Scan – Punkte | 51, 101, 201, 401, 801 | 51, 101, 201, 401, 801 | 51, 101, 201, 401, 801 | 51, 101, 201, 401, 801 |
| Grafischer Scan – Anzeigeergebnisse | Extrema & Werte am Cursor-Punkt | Extrema & Werte am Cursor-Punkt | Extrema & Werte am Cursor-Punkt | Extrema & Werte am Cursor-Punkt |
| Grafischer Scan – Piezoelektrische Prüfung | Admittanzkreis & Materialtest | Admittanzkreis & Materialtest | Admittanzkreis & Materialtest | Admittanzkreis & Materialtest |
| Grafischer Scan – Scanverlauf | 1–4 Parameter; 1/2/4-Split | 1–4 Parameter; 1/2/4-Split | 1–4 Parameter; 1/2/4-Split | 1–4 Parameter; 1/2/4-Split |
| Grafischer Scan – Anzeigebereich | Automatisch / gesperrt | Automatisch / gesperrt | Automatisch / gesperrt | Automatisch / gesperrt |
| Grafischer Scan – Koordinatenskalierung | Logarithmisch, linear | Logarithmisch, linear | Logarithmisch, linear | Logarithmisch, linear |
| Grafischer Scan – Parameter | Frequenz, AC-Spannung, AC-Strom, DC-Bias | Frequenz, AC-Spannung, AC-Strom, DC-Bias | Frequenz, AC-Spannung, AC-Strom, DC-Bias | Frequenz, AC-Spannung, AC-Strom, DC-Bias |
| Grafischer Scan – Auslösung (Einzeln) | Einzelner Scan pro Trigger | Einzelner Scan pro Trigger | Einzelner Scan pro Trigger | Einzelner Scan pro Trigger |
| Grafischer Scan – Auslösung (Sequenziell) | Endlos-Schleife | Endlos-Schleife | Endlos-Schleife | Endlos-Schleife |
| Grafischer Scan – Ergebnisspeicherung | Grafiken & Dokumentation | Grafiken & Dokumentation | Grafiken & Dokumentation | Grafiken & Dokumentation |
| Komparator – Bin-Stufung | 10 Bins, PASS, FAIL | 10 Bins, PASS, FAIL | 10 Bins, PASS, FAIL | 10 Bins, PASS, FAIL |
| Komparator – Abweichungseinstellung | Absolut/Prozent/Off | Absolut/Prozent/Off | Absolut/Prozent/Off | Absolut/Prozent/Off |
| Komparator – Bin-Modus | Toleranz, kontinuierlich | Toleranz, kontinuierlich | Toleranz, kontinuierlich | Toleranz, kontinuierlich |
| Komparator – Bin-Anzahl | 0–99 999 | 0–99 999 | 0–99 999 | 0–99 999 |
| Komparator – Bin-Urteil | Bis 4 Parameter; PASS/FAIL je Grenzwert | Bis 4 Parameter; PASS/FAIL je Grenzwert | Bis 4 Parameter; PASS/FAIL je Grenzwert | Bis 4 Parameter; PASS/FAIL je Grenzwert |
| Komparator – PASS/FAIL-Anzeige | Front-LEDs | Front-LEDs | Front-LEDs | Front-LEDs |
| Daten-Cache | 201 Ergebnisse batch-read | 201 Ergebnisse batch-read | 201 Ergebnisse batch-read | 201 Ergebnisse batch-read |
| Speicher – Intern | 8 GB (≈6 GB nutzbar) | 8 GB (≈6 GB nutzbar) | 8 GB (≈6 GB nutzbar) | 8 GB (≈6 GB nutzbar) |
| Speicher – Externer USB | Setup-Dateien, Screenshots, Aufnahmen | Setup-Dateien, Screenshots, Aufnahmen | Setup-Dateien, Screenshots, Aufnahmen | Setup-Dateien, Screenshots, Aufnahmen |
| Tastatursperre | Vorderseite sperrbar | Vorderseite sperrbar | Vorderseite sperrbar | Vorderseite sperrbar |
| Schnittstellen – USB HOST | 2 Ports (Maus/Tastatur/USB-Stick)* | 2 Ports (Maus/Tastatur/USB-Stick)* | 2 Ports (Maus/Tastatur/USB-Stick)* | 2 Ports (Maus/Tastatur/USB-Stick)* |
| Schnittstellen – USB DEVICE | USB TMC-488/USB 2.0 Typ B | USB TMC-488/USB 2.0 Typ B | USB TMC-488/USB 2.0 Typ B | USB TMC-488/USB 2.0 Typ B |
| Schnittstellen – LAN | 10/100 M Ethernet | 10/100 M Ethernet | 10/100 M Ethernet | 10/100 M Ethernet |
| Schnittstellen – HANDLER | Bin-Stufungsausgang | Bin-Stufungsausgang | Bin-Stufungsausgang | Bin-Stufungsausgang |
| Schnittstellen – GPIB | Standard | Standard | Standard | Standard |
| Schnittstellen – RS232C | 9-polig gekreuzt | 9-polig gekreuzt | 9-polig gekreuzt | 9-polig gekreuzt |
| Schnittstellen – RS485 | Standard | Standard | Standard | Standard |
| Aufheizzeit beim Einschalten | 60 Minuten | 60 Minuten | 60 Minuten | 60 Minuten |
| Eingangsspannung | 100–120 VAC / 198–242 VAC; 47–63 Hz | 100–120 VAC / 198–242 VAC; 47–63 Hz | 100–120 VAC / 198–242 VAC; 47–63 Hz | 100–120 VAC / 198–242 VAC; 47–63 Hz |
| Leistungsaufnahme | ≥ 130 VA | ≥ 130 VA | ≥ 130 VA | ≥ 130 VA |
| Abmessungen (BxHxT) mm | 430×177×265 | 430×177×265 | 430×177×265 | 430×177×265 |
| Gewicht | 11 kg | 11 kg | 11 kg | 11 kg |