Halbleiter C-V-Analysatoren von Tonghui

Artikelnr: TH511

Der TH511 C-V Analyzer (1 kHz–2 MHz) zur Messung von Ciss, Coss, Crss, Rg verfügt über 0 - 200V Vds Messbereich.

VDS: 0 - 200 V
10,1-Zoll-kapazitiver Touchscreen, Auflösung 1280 x 800, Linux-System
Dual-CPU-Architektur, höchste Testgeschwindigkeit der LCR-Funktion: 0,56 ms
Drei Testmethoden: Stichprobenprüfung, Listenscan und Grafikscan (optional)
Vier parasitäre Parameter (Ciss, Coss, Crss, Rg) werden gemessen und auf demselben Bildschirm angezeigt
CV-Kurvenscan, Ciss-Rg-Kurvenscan
Integriertes Design: LCR + VGS-Niederspannungsquelle + VDS-Hochspannungsquelle + Kanalumschaltung + PC
Standardmäßiger 2-Kanal-Test, der zwei Geräte oder Dual-Chip-Geräte gleichzeitig testen kann. Die Anzahl der Kanäle ist auf 6 erweiterbar, die Kanalparameter werden separat gespeichert.
Schnellladung verkürzt die Kondensatorladezeit und ermöglicht schnelle Tests.
Automatische Verzögerungseinstellung
Hohe Vorspannung: VGS: 0 - ±40 V
Sortierung mit 10 Behältern

Halbleiterbauelemente/Leistungsbauelemente
Prüfung der parasitären Kapazität und Analyse der C-V-Kennlinie von Dioden, Trioden, MOSFETs, IGBTs, Thyristoren, integrierten Schaltkreisen, optoelektronischen Chips usw.
Halbleitermaterial
Wafer, Analyse der C-V-Kennlinie
Flüssigkristallmaterial
Analyse der elastischen Konstanten
Kapazitive Elemente
Prüfung und Analyse der C-V-Kennlinie von Kondensatoren, Prüfung und Analyse kapazitiver Sensoren

13.500,00 €*

Artikelnr: TH512

Der TH512 C-V Analyzer (1 kHz–2 MHz) zur Messung von Ciss, Coss, Crss, Rg verfügt über 0 - 1500V Vds Messbereich.

VDS: 0 - 1500V
10,1-Zoll-kapazitiver Touchscreen, Auflösung 1280 x 800, Linux-System
Dual-CPU-Architektur, höchste Testgeschwindigkeit der LCR-Funktion: 0,56 ms
Drei Testmethoden: Stichprobenprüfung, Listenscan und Grafikscan (optional)
Vier parasitäre Parameter (Ciss, Coss, Crss, Rg) werden gemessen und auf demselben Bildschirm angezeigt
CV-Kurvenscan, Ciss-Rg-Kurvenscan
Integriertes Design: LCR + VGS-Niederspannungsquelle + VDS-Hochspannungsquelle + Kanalumschaltung + PC
Standardmäßiger 2-Kanal-Test, der zwei Geräte oder Dual-Chip-Geräte gleichzeitig testen kann. Die Anzahl der Kanäle ist auf 6 erweiterbar, die Kanalparameter werden separat gespeichert.
Schnellladung verkürzt die Kondensatorladezeit und ermöglicht schnelle Tests.
Automatische Verzögerungseinstellung
Hohe Vorspannung: VGS: 0 - ±40 V
Sortierung mit 10 Behältern

Halbleiterbauelemente/Leistungsbauelemente
Prüfung der parasitären Kapazität und Analyse der C-V-Kennlinie von Dioden, Trioden, MOSFETs, IGBTs, Thyristoren, integrierten Schaltkreisen, optoelektronischen Chips usw.
Halbleitermaterial
Wafer, Analyse der C-V-Kennlinie
Flüssigkristallmaterial
Analyse der elastischen Konstanten
Kapazitive Elemente
Prüfung und Analyse der C-V-Kennlinie von Kondensatoren, Prüfung und Analyse kapazitiver Sensoren

Varianten ab 13.500,00 €*

18.399,00 €*

Artikelnr: TH513

Der TH513 C-V Analyzer (1 kHz–2 MHz) zur Messung von Ciss, Coss, Crss, Rg verfügt über 0 - 3000V Vds Messbereich.

VDS: 0 - 3000 V
10,1-Zoll-kapazitiver Touchscreen, Auflösung 1280 x 800, Linux-System
Dual-CPU-Architektur, höchste Testgeschwindigkeit der LCR-Funktion: 0,56 ms
Drei Testmethoden: Stichprobenprüfung, Listenscan und Grafikscan (optional)
Vier parasitäre Parameter (Ciss, Coss, Crss, Rg) werden gemessen und auf demselben Bildschirm angezeigt
CV-Kurvenscan, Ciss-Rg-Kurvenscan
Integriertes Design: LCR + VGS-Niederspannungsquelle + VDS-Hochspannungsquelle + Kanalumschaltung + PC
Standardmäßiger 2-Kanal-Test, der zwei Geräte oder Dual-Chip-Geräte gleichzeitig testen kann. Die Anzahl der Kanäle ist auf 6 erweiterbar, die Kanalparameter werden separat gespeichert.
Schnellladung verkürzt die Kondensatorladezeit und ermöglicht schnelle Tests.
Automatische Verzögerungseinstellung
Hohe Vorspannung: VGS: 0 - ±40 V
Sortierung mit 10 Behältern

Halbleiterbauelemente/Leistungsbauelemente
Prüfung der parasitären Kapazität und Analyse der C-V-Kennlinie von Dioden, Trioden, MOSFETs, IGBTs, Thyristoren, integrierten Schaltkreisen, optoelektronischen Chips usw.
Halbleitermaterial
Wafer, Analyse der C-V-Kennlinie
Flüssigkristallmaterial
Analyse der elastischen Konstanten
Kapazitive Elemente
Prüfung und Analyse der C-V-Kennlinie von Kondensatoren, Prüfung und Analyse kapazitiver Sensoren

Varianten ab 13.500,00 €*

40.499,00 €*